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國產(chǎn)高低溫探針臺報價

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南京芯測軟件技術(shù)有限公司,專業(yè)打造半導體晶圓級測試及芯片檢測等系統(tǒng)集成平臺。公司致力為客戶提供半導體測試設(shè)備國產(chǎn)化改造,以及系統(tǒng)集成的一站式平臺服務(wù)。公司的目標是成為國內(nèi)晶圓級在片測試,器件測量系統(tǒng)軟件、硬件的先進供應商,以滿足國內(nèi)用戶需求,開發(fā)半導體測試設(shè)備和系統(tǒng)集成軟件定制化服務(wù)。

南京芯測的在專注于在片測試系統(tǒng)設(shè)備經(jīng)銷與晶圓在片測試軟件的研發(fā)。涉及的設(shè)備包括:手動探針臺、半自動探針臺、全自動探針臺、硅光探針臺、射頻探針臺、高低溫探針臺、除此之外涉及經(jīng)銷芯片ESD測試系統(tǒng)、封裝及工藝檢測設(shè)備等。我們服務(wù)的領(lǐng)域涵蓋半導體晶圓級在片測試、射頻微波器件測量,大功率器件測試、微組裝封裝工藝檢測、失效分析、材料測試等應用行業(yè)

 

 

 

 

探針臺,芯片ESD測試設(shè)備,TLP測試設(shè)備,CDM測試設(shè)備
GP200SE 8英寸高低溫探針臺包含DC~THZ測試所需的完整配置,能夠在最短時間內(nèi)準確地完成測試要求。提供專業(yè)的測試方案,能夠?qū)崿F(xiàn)高品質(zhì)的I-V、C-V、RF 等測試。GP200SE擁有穩(wěn)定且可靠的測試平臺,保證測試中的扎針質(zhì)量。優(yōu)異的光學系統(tǒng)結(jié)合分辨率<2μm的針座系統(tǒng),確保扎針的穩(wěn)定性。
國產(chǎn)高低溫探針臺報價 產(chǎn)品信息

型號:GP200-SE

名稱:8英寸高低溫探針臺

應用:專門為升級和擴展所設(shè)計的各種選項,可輕松實現(xiàn)如負載牽引系統(tǒng)、太赫茲系統(tǒng)、輻照系統(tǒng)、1/f噪聲等系統(tǒng)的搭載,GP200SE系統(tǒng)也可根據(jù)您的未來項目需求進行重新配置。

GP200-SE 8英寸手動高低溫探針臺,是一款性價比高的射頻探針臺,廣泛適合高校,研究所,企業(yè)研發(fā)實驗室專用。

8英寸高低溫探針臺參數(shù)

手動臺總體尺寸

含臺面延長板

1200mm × 545mm × 780mm(長×寬×離地面高度)

尺寸(W×D×H)

740 × 690 × 890mm

重量

~ 200 kg

變溫載物臺(選件)

溫度范圍

25°C to 200°C 、 -60°C to 200°C

溫控精度

≤0.1°C

溫度均勻性

≤±2 °C

控制方式

直流/PID

升溫時間

25 to 200 °C ≤ 25 min

漏電(Triax @1V)

≤500fA(常溫);≤2PA @(200°C)

溫度傳感器

溫度傳感器 PT100

接口形式

BNC/Kelvin Triax

載物臺選擇

鍍鎳多孔/鍍金多孔

降溫方式

空氣制冷

通訊接口

USB / RS232

操作方式

可PC控制

 

 

關(guān)鍵詞:傳感器
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