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原位納米力學(xué)測試系統(tǒng)Nano Indenter® G200

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上海納騰儀器有限公司

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產(chǎn)品簡介

詳細(xì)介紹

Nano Indenter® G200系統(tǒng)是一種準(zhǔn)確，靈活，使用方便的納米級機(jī)械測試儀器。 G200 測量楊氏模量和硬度，包括從納米到毫米的六個數(shù)量級的形變測量。該系統(tǒng)還可以測量聚合物，凝膠和生物組織的復(fù)數(shù)模量以及薄金屬膜的蠕變響應(yīng)（應(yīng)變率靈敏度）。模塊化選項可適用于各種應(yīng)用：頻率特定測試，定量刮擦和磨損測試，集成的基于探頭的成像，高溫納米壓痕測試，擴(kuò)展負(fù)載容量高達(dá)10N 和自定義測試。

Nano Indenter® G200 系統(tǒng)的美國工廠是一臺納米壓痕儀的誕生地，納米劃痕壓痕儀工作原理用的物理模型 Oliver-Pharr 是以工廠前科學(xué)家的名字命名的，無論是國際上還是國內(nèi)，KLA Nano Indenter 的都要接近 80%。我們的技術(shù)業(yè)內(nèi)，連續(xù)剛度測試專用、快速壓痕測試專用等等，都是其它品牌納米壓痕儀無法提供的。

Nano Indenter® G200 可以提供測試的納米劃痕、壓痕、摩擦磨損、斷裂韌性、界面附著力、粘彈性測量和高溫納米壓痕測試等，的連續(xù)剛度測量技術(shù)，這個是 KLA Nano Indenter 的專用技術(shù)，也是寫入中國薄膜力學(xué)測試國標(biāo)的技術(shù)，還有快速壓痕，原位成像功能,高分辨加載功能等等。