Park XE15具備多個特殊功能，是共享實驗室處理各種樣品，研究員進(jìn)行多變量實驗，失效分析時研究晶片等的，合理的價格搭配強(qiáng)健的性能設(shè)置，Park XE15能夠?qū)崿F(xiàn)多樣品一次性自動成像，實現(xiàn)大化，您只需要將樣品放在樣品臺上，在啟動掃描程序便可，該功能還可以在相同環(huán)境條件下掃描樣品，從而大大提高數(shù)據(jù)的精確性和穩(wěn)定性，同時他還配有全面的掃描模式，可掃描各種尺寸的樣品。
基本技術(shù)特點(diǎn)
100μm x 100μm掃描范圍的XY柔韌導(dǎo)向掃描
撓性導(dǎo)向強(qiáng)力Z掃描12μm （25μm選配）
滑動連接的超亮二級管頭
多樣品夾頭
選配編碼器的XY自動樣品載臺
垂直對齊的電動Z載臺和聚焦載臺
6寸樣品臺
基本功能模式
標(biāo)準(zhǔn)成像 | 化學(xué)性能 | 介電/壓電性能 |
? 真正非接觸式 ? 接觸式 ? 側(cè)向摩擦力顯微技術(shù)（LFM） ? 相位成像， ? 輕敲模式 | ? 功能化探針的化學(xué)力顯微鏡 ? 電化學(xué)顯微鏡(EC-STM和EC-AFM) | ? 靜電力顯微鏡(EFM) ? 壓電力顯微鏡（PFM） ? 高電壓PFM |
力測量 | 磁性能 | 熱性能 |
? 力-距離（F-D）光譜 ? 力-體積成像 | ? 磁力顯微鏡 ? | ? 掃描熱顯微鏡（SThM） |
電性能 | 光學(xué)性能 | 機(jī)械性能 |
? 導(dǎo)電AFM（AFM） ? I-V譜線 ? 掃描開爾文探針顯微鏡（KPFM） ? 掃描電容顯微鏡（SCM） ? 掃描電阻顯微鏡（SSRM） ? 掃描隧道顯微鏡（STM） ? 時間分辨的光電流測繪（Tr-PCM） | ? 針尖增強(qiáng)拉曼光譜（TERS） | ? 力調(diào)制顯微鏡（FMM） ? 納米壓痕，納米刻蝕 ? 高壓納米刻蝕 ? 納米操縱 ? 壓電力顯微鏡（PFM） |
