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半導體激光器全自動COS綜合性能測試設備

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品       牌

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更新時間:2024-12-10 04:18:45瀏覽次數(shù):15次

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產(chǎn)品簡介

LD-COS檢測設備:用于激光芯片貼片后,光性能的檢測設備。傳統(tǒng)檢測方式為人工上下料,儀器檢測數(shù)據(jù),人工篩選和記錄。本設備將全面實現(xiàn)自動化,大大提高芯片檢出效率,減少人為操作帶來的誤判或芯片損傷,更省人省時。

詳細介紹

我司自主研發(fā)的全自動COS綜合性能測試設備:是用于激光芯片貼片后,光性能的檢測設備。傳統(tǒng)檢測方式為人工上下料,儀器檢測數(shù)據(jù),人工篩選和記錄。本設備將全面實現(xiàn)自動化,大大提高芯片檢出效率,減少人為操作帶來的誤判或芯片操作,更省人省時。

技術(shù)參數(shù):

型號 HX-COST150
供電 單相交流/220V(50Hz),30A
整機功率/重量 ≤8KW / 1200kg
氣源 壓縮空氣0.5~0.8Mpa,真空度>-80Kpa,直徑10mmTube,(選項:真空泵)
水源 純水,4L/Min(管直徑:機臺12mm,冷卻8mm)
設備尺寸 1400 x 1350 x 2100(mm)
測試工位 雙通道,4工位
測試電流 100A,步長0.1A,分辨率1mA,設定精度0.1%+50mA
激光波長范圍 300~1100nm
功率測試 功率重復測試精度<0.5%,功率測試范圍為0-80W,分辨率0.01W
波長檢測 測量范圍為300-1100nm,波長測量精度為1nm,光學分辨率≤0.25nm。
偏振度 偏振度差值<土0.5%;
發(fā)散角 X軸方向測量范圍-50°至50°,Y軸方向-60°至60°,精度土0.5
測試效率 280PCS/小時

 

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